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可靠性测试设备-20路非接卡同测
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可靠性测试设备-20路非接卡同测

产品型号:QTG-CL
更新时间:2017-12-28 12:50:27
产品发布者联系方式
赤松城(北京)科技有限公司
联系人:高健民
手机:13439569418
电话:010-62632548
地址:北京市海淀区中关村东路18号财智国际大厦B座805
在线客服:点击这里给我发消息 点击这里给我发消息

产品介绍

 QTG20-CL是一款用于非接触式智能卡模块/条带的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备,与CSC STG1001智能卡测试平台配合使用,为非接触式智能卡提供了可靠性测试解决方案。

产品特性:


 支持20路非接触式智能卡模块同时测试
 特制测试座,支持XOAR2、双界面条带/模块等多种封装
 输入1路USB口,内置20路USB转UART口,配合上位机软件可实现20路并行通信
 内置20路PCSC非接触读卡器,支持标准14443TYPEA/TYPEB协议,且相互隔离
 输出13.56MHz调制正弦波,电压幅度3.5V~6V可调;
 使用50PIN高温插座,含20对屏蔽线(耐高温125C)
 子板集成20路非接触卡模块测试座


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